Seznam metod analýzy materiálů - List of materials analysis methods - Wikipedia
Seznam metod analýzy materiálů:
- μSR - viz Muonova spinová spektroskopie
- χ - viz Magnetická susceptibilita
A
- Analytická ultracentrifugace – Analytická ultracentrifugace
- AAS – Atomová absorpční spektroskopie
- AED – Difrakce elektronového šneku
- AES – Augerova elektronová spektroskopie
- AFM – Mikroskopie atomové síly
- AFS – Atomová fluorescenční spektroskopie
- APFIM – Iontová mikroskopie pole sondy atomu
- APS – Spektroskopie potenciálu vzhledu
- ARPES – Úhlová rozlišovací fotoemisní spektroskopie
- ARUPS – Úhlová rozlišená ultrafialová fotoemisní spektroskopie
- ATR – Oslabená celková odrazivost
B
- SÁZKA – Měření BET povrchu (SÁZKA od Brunauera, Emmetta, Tellera)
- BiFC – Bimolekulární fluorescenční komplementace
- BKD - Zpětný rozptyl Kikuchiho difrakce, viz EBSD
- BRET – Přenos energie bioluminiscenční rezonance
- BSED - Zpětně rozptýlená elektronová difrakce, viz EBSD
C
- CAICISS – Koaxiální nárazová srážková iontová spektroskopie
- AUTA – Koherentní anti-Stokesova Ramanova spektroskopie
- CBED – Konvergentní elektronová difrakce paprsku
- CCM – Mikroskopie sběru poplatků
- CDI – Koherentní difrakční zobrazování
- CE – Kapilární elektroforéza
- SEČ – Kryoelektronová tomografie
- CL – Katodoluminiscence
- CLSM – Konfokální laserová skenovací mikroskopie
- ÚTULNÝ – Korelační spektroskopie
- Cryo-EM – Kryoelektronová mikroskopie
- Kryo-SEM – Kryo-rastrovací elektronová mikroskopie
- životopis – Cyklická voltametrie
D
- DE (T) A – Dielektrická termická analýza
- dHvA – De Haas – van Alphen efekt
- DIC – Kontrastní mikroskopie s diferenciální interferencí
- Dielektrická spektroskopie – Dielektrická spektroskopie
- DLS – Dynamický rozptyl světla
- DLTS – Hluboká přechodná spektroskopie
- DMA – Dynamická mechanická analýza
- DPI – Duální polarizační interferometrie
- DRS – Difúzní odraz spektroskopie
- DSC – Diferenční skenovací kalorimetrie
- DTA – Diferenciální termická analýza
- DVS – Dynamická sorpce par
E
- EBIC – Proud indukovaný elektronovým paprskem (a viz IBIC: náboj indukovaný iontovým paprskem)
- EBS - Elastická (nerutherfordská) zpětná rozptylová spektrometrie (viz RBS)
- EBSD – Difrakce zpětného rozptylu elektronů
- ECOSY – Exkluzivní korelační spektroskopie
- ECT – Elektrická kapacitní tomografie
- EDAX – Energeticky disperzní analýza rentgenových paprsků
- EDMR – Elektricky detekovaná magnetická rezonance, viz ESR nebo EPR
- EDS nebo EDX – Energeticky disperzní rentgenová spektroskopie
- ÚŘEDY – Spektroskopie ztráty elektronové energie
- EFTEM – Energeticky filtrovaný transmisní elektronový mikroskop
- EID – Elektronem indukovaná desorpce
- EIT a ERT – Elektrická impedanční tomografie a Elektrická rezistivní tomografie
- EL – Elektroluminiscence
- Elektronová krystalografie – Elektronová krystalografie
- ELS – Elektroforetický rozptyl světla
- ENDOR – Elektronová jaderná dvojitá rezonance, viz ESR nebo EPR
- EPMA – Mikroanalýza elektronové sondy
- EPR – Elektronová paramagnetická rezonanční spektroskopie
- ERD nebo ERDA – Elastická detekce zpětného rázu nebo Elastická analýza detekce zpětného rázu
- ESCA – Elektronová spektroskopie pro chemickou analýzu * viz XPS
- ESD – Elektronem stimulovaná desorpce
- ESEM – Environmentální skenovací elektronová mikroskopie
- ESI-MS nebo ES-MS – Hmotnostní spektrometrie s ionizací elektrosprejem nebo elektrosprejová hmotnostní spektrometrie
- ESR – Elektronová spinová rezonanční spektroskopie
- ESTM – Elektrochemická skenovací tunelovací mikroskopie
- EXAFS – Rozšířená rentgenová absorpční jemná struktura
- EXSY – Vyměňte spektroskopii
F
- FCS – Fluorescenční korelační spektroskopie
- FCCS – Fluorescenční křížová korelační spektroskopie
- FEM – Polní emisní mikroskopie
- FIB – Zaostřený iontový paprsek mikroskopie
- FIM-AP – Polní iontová mikroskopie –atomová sonda
- Flow birefringence – Flow dvojlom
- Fluorescenční anizotropie – Fluorescenční anizotropie
- FLIM – Fluorescenční celoživotní zobrazování
- Fluorescenční mikroskopie – Fluorescenční mikroskopie
- FOSPM – Mikroskopie skenovací sondy zaměřené na funkce
- FRET – Fluorescenční rezonanční přenos energie
- FRS - Forward Recoil Spectrometry, synonymum pro ERD
- FTICR nebo FT-MS – Rezonance iontového cyklotronu s Fourierovou transformací nebo hmotnostní spektrometrie s Fourierovou transformací
- FTIR – Infračervená spektroskopie s Fourierovou transformací
G
- GC-MS – Plynová chromatografie - hmotnostní spektrometrie
- GDMS – Hmotnostní spektrometrie s výbojem
- GDOS – Optická spektroskopie s výbojem
- GISAXY – Dopad pastvy na malý úhel rentgenového rozptylu
- GIXD – Rentgenová difrakce pastvy
- GIXR – Výskyt pastvy Rentgenová odrazivost
- GLC – Chromatografie na plyn-kapalina
H
- HAADF - vysoký úhel prstencové zobrazování v tmavém poli
- MÁ – Rozptyl atomu hélia
- HPLC – Vysoce účinná kapalinová chromatografie
- HLAVY – Spektroskopie ztrát elektronové energie s vysokým rozlišením
- HREM – Elektronová mikroskopie s vysokým rozlišením
- HRTEM – Transmisní elektronová mikroskopie s vysokým rozlišením
- HI-ERDA – Analýza detekce zpětného rázu těžkých iontů
- HE-PIXE – Vysoce energetická protonem indukovaná rentgenová emise
Já
- IAES – Ionem indukovaná Augerova elektronová spektroskopie
- IBA – Analýza iontového paprsku
- IBIC – Náboj indukovaný iontovým paprskem mikroskopie
- ICP-AES – Atomová emisní spektroskopie s indukčně vázanou plazmou
- ICP-MS – Hmotnostní spektrometrie s indukčně vázanou plazmou
- Imunofluorescence – Imunofluorescence
- ICR – Ionová cyklotronová rezonance
- IETS – Neelastická tunelová elektronová spektroskopie
- IGA – Inteligentní gravimetrická analýza
- IGF – Fúze inertního plynu
- IIX - Iontem indukovaná rentgenová analýza: Viz Emise rentgenového záření vyvolaná částicemi
- INS – Ion neutralizační spektroskopie
Neelastický rozptyl neutronů - IRNDT – Infračervené nedestruktivní testování materiálů
- IRS – Infračervená spektroskopie
- ISS – Spektroskopie rozptylu iontů
- ITC – Izotermická titrační kalorimetrie
- IVEM – Elektronová mikroskopie se středním napětím
L
- LALLS – Nízký úhel rozptylu laserového světla
- LC-MS – Kapalinová chromatografie - hmotnostní spektrometrie
- LEED – Nízkoenergetická elektronová difrakce
- LEEM – Nízkoenergetická elektronová mikroskopie
- LEIS – Nízkoenergetický rozptyl iontů
- LIBS – Laserem indukovaná poruchová spektroskopie
- ÚLOHY – Laserová optická emisní spektroskopie
- LS – Rozptyl světla (Raman)
M
- MALDI – Maticová laserová desorpce / ionizace
- MBE – Epitaxe molekulárního paprsku
- MEIS – Rozptyl iontů střední energie
- MFM – Mikroskopie magnetických sil
- MIT – Magnetická indukční tomografie
- MPM – Multiphotonová fluorescenční mikroskopie
- MRFM – Mikroskopie magnetické rezonanční síly
- MRI – Magnetická rezonance
- SLEČNA – Hmotnostní spektrometrie
- MS / MS – Tandemová hmotnostní spektrometrie
- MSGE – Mechanicky stimulované emise plynu
- Mössbauerova spektroskopie – Mössbauerova spektroskopie
- MTA – Mikrotermální analýza
N
- NAA – Analýza aktivace neutronů
- Nanovidova mikroskopie – Nanovidova mikroskopie
- ND – Neutronová difrakce
- NDP – Neutronové hloubkové profilování
- NEXAFS – Jemná struktura absorpce rentgenových paprsků blízko okraje
- NIS – Jaderný nepružný rozptyl / absorpce
- NMR – Spektroskopie nukleární magnetické rezonance
- NOESY – Spektroskopie s efektem jaderného Overhausera
- NRA – Analýza jaderných reakcí
- NSOM – Optická mikroskopie blízkého pole
Ó
- OBIC – Proud indukovaný optickým paprskem
- ODNMR - Opticky detekovaná magnetická rezonance, viz ESR nebo EPR
- OES – Optická emisní spektroskopie
- Osmometrie – Osmometrie
P
- PAS – Pozitronová anihilační spektroskopie
- Fotoakustická spektroskopie – Fotoakustická spektroskopie
- PAT nebo PAKT – Fotoakustická tomografie nebo fotoakustická počítačová tomografie
- PAX – Fotoemise adsorbovaného xenonu
- PC nebo PCS – Fotoproudová spektroskopie
- Mikroskopie fázového kontrastu – Mikroskopie fázového kontrastu
- PhD – Fotoelektronová difrakce
- PD – Fotodesorpce
- PDEIS – Potenciodynamická elektrochemická impedanční spektroskopie
- PDS – Fototermální vychylovací spektroskopie
- PED – Fotoelektronová difrakce
- KŮRY - paralelní spektroskopie ztráty elektronové energie
- PEEM – Fotoemisní elektronová mikroskopie (nebo fotoelektronová emisní mikroskopie)
- PES – Fotoelektronová spektroskopie
- PINEM – fotonem indukovaná elektronová mikroskopie blízkého pole
- PIGE - Částečně (nebo protonem) indukovaná gama spektroskopie, viz Analýza jaderných reakcí
- PIXE – Rentgenová spektroskopie indukovaná částicemi (nebo protony)
- PL – Fotoluminiscence
- Porosimetrie – Porosimetrie
- Prášková difrakce – Prášková difrakce
- PTMS – Fototermální mikrospektroskopie
- PTS – Fototermální spektroskopie
Q
R
- Raman – Ramanova spektroskopie
- RAXRS – Rezonanční anomální rozptyl rentgenového záření
- RBS – Rutherfordova zpětná rozptylová spektrometrie
- REM – Reflexní elektronová mikroskopie
- RDS – Spektroskopie rozdílu odrazivosti
- RHEED – Reflexní vysokoenergetická elektronová difrakce
- RÁFKY – Hmotnostní spektrometrie s rezonanční ionizací
- RIXY – Rezonanční nepružný rentgenový rozptyl
- RR spektroskopie – Rezonanční Ramanova spektroskopie
S
- SMUTNÝ – Difrakce vybrané oblasti
- SAED – Vybraná oblast difrakce elektronů
- SAM – Skenovací Augerova mikroskopie
- SANS – Malý úhel rozptylu neutronů
- SAXS – Malý úhel rentgenového rozptylu
- SCANIIR – Složení povrchu analýzou neutrálních druhů a iontového záření
- SCEM – Skenování konfokální elektronové mikroskopie
- SE – Spektroskopická elipsometrie
- SEK – Vylučovací chromatografie
- SEIRA – Povrchová infračervená absorpční spektroskopie
- SEM – Skenovací elektronová mikroskopie
- SERS – Povrchově vylepšená Ramanova spektroskopie
- SERRS – Ramanova spektroskopie se zesílenou povrchovou rezonancí
- SESANY – Spin Echo Malý úhel neutronový rozptyl
- SEXAFS – Povrchová prodloužená rentgenová absorpce, jemná struktura
- SICM – Skenovací iontově-vodivostní mikroskopie
- SIL – Pevné ponorné čočky
- SIM – Masivní ponorné zrcadlo
- SIMS – Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů
- SNMS – Hmotnostní spektrometrie naprašovaných neutrálních druhů
- SNOM – Skenování optické mikroskopie blízkého pole
- SPECT – Počítačová tomografie s emisemi jednoho fotonu
- SPM – Mikroskopie skenovací sondy
- SRM-CE / MS - Sledování vybrané reakce kapilární elektroforéza hmotnostní spektrometrie
- SSNMR – Jaderná magnetická rezonance v pevné fázi
- Intenzivní spektroskopie – Intenzivní spektroskopie
- STED – Mikroskopie stimulovaného snižování emisí
- ZASTAVIT – Skenování transmisní elektronové mikroskopie
- STM – Skenovací tunelovací mikroskopie
- STS – Skenovací tunelovací spektroskopie
- SXRD – Povrchová rentgenová difrakce (SXRD)
T
- TAT nebo TAKT – Termoakustická tomografie nebo termoakustická počítačová tomografie (viz také fotoakustická tomografie - PAT)
- TEM – transmisní elektronový mikroskop /mikroskopie
- TGA – Termogravimetrická analýza
- TIKA - Kinetická analýza vysílajícího iontu
- ČASY – Hmotnostní spektrometrie s tepelnou ionizací
- TIRFM – Celková interní reflexní fluorescenční mikroskopie
- TLS – Spektroskopie fototermálních čoček, typ Fototermální spektroskopie
- TMA – Termomechanická analýza
- TOF-MS – Hmotnostní spektrometrie doby letu
- Dvoufotonová excitační mikroskopie – Dvoufotonová excitační mikroskopie
- TXRF - Totální odraz Rentgenová fluorescence analýza
U
- Ultrazvuková útlumová spektroskopie – Ultrazvuková útlumová spektroskopie
- Ultrazvukové testování – Ultrazvukové testování
- UPS – UV-fotoelektronová spektroskopie
- USANY - Ultra malý úhel rozptylu neutronů
- USAXS - Ultrafialový rentgenový rozptyl
- UV-Vis – Ultrafialová viditelná spektroskopie
PROTI
- VEDIC - Vylepšeno o video kontrastní mikroskopie s rozdílnou interferencí
- Voltametrie – Voltametrie
Ž
- VOSKY – Širokoúhlý rentgenový rozptyl
- WDX nebo WDS – Vlnová délka disperzní rentgenová spektroskopie
X
- XAES – Rentgenově indukovaná Augerova elektronová spektroskopie
- XANES – XANES, synonymem pro NEXAFS (blízká hrana rentgenové absorpce, jemná struktura)
- XAS – Rentgenová absorpční spektroskopie
- X-CTR – RTG zkrácení tyče rozptyl
- Rentgenová krystalografie – Rentgenová krystalografie
- XDS – Rentgenový difúzní rozptyl
- XPEEM – Rentgenová fotoelektronová emisní mikroskopie
- XPS – Rentgenová fotoelektronová spektroskopie
- XRD – Rentgenová difrakce
- XRES – Rozptyl rentgenové rezonanční výměny
- XRF – Rentgenová fluorescence analýza
- XRR – Rentgenová odrazivost
- XRS – Rentgenový Ramanův rozptyl
- XSW – X-ray stojatá vlna technika
Reference
- Callister, WD (2000). Věda o materiálech a inženýrství - úvod. London: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7.
- Yao, N, ed. (2007). Soustředěné systémy iontových paprsků: Základy a aplikace. Cambridge, Velká Británie: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4.