David E. Aspnes - David E. Aspnes - Wikipedia

Tento článek má několik problémů. Prosím pomozte vylepši to nebo diskutovat o těchto otázkách na internetu diskusní stránka. (Zjistěte, jak a kdy tyto zprávy ze šablony odebrat) Tento životopis živé osoby potřebuje další citace pro ověření. Pomozte prosím přidáním spolehlivé zdroje. Sporný materiál o žijících osobách, který není získáván nebo má špatné zdroje musí být okamžitě odstraněny, zvláště pokud potenciálně hanlivý nebo škodlivé. Najít zdroje: „David E. Aspnes“  – zprávy  · noviny  · knihy  · učenec  · JSTOR (Srpna 2009) (Zjistěte, jak a kdy odstranit tuto zprávu šablony) Tento životopisný článek je psáno jako životopis. Prosím pomozte to vylepšit revizí, aby to bylo neutrální a encyklopedický. (Květen 2009) (Zjistěte, jak a kdy odstranit tuto zprávu šablony)

David Erik Aspnes (narozen 1. května 1939 v Madison, Wisconsin ) je americký fyzik a člen Národní akademie věd (1998). Aspnes vyvinul základní teorie lineárních a nelineárních optických vlastností materiálů a tenkých vrstev a technologii spektroskopické elipsometrie (SE). SE je metrologie, která je při výrobě integrovaných obvodů nepostradatelná.

Životopis

Aspnes vyrostl na mléčné farmě v oblasti Madison a chodil do jednopokojové venkovské školy. Aspnes získal titul BS (1960) a MS (1961) v oboru elektrotechnika na VŠE University of Wisconsin - Madison. Poté, co zjistil, že se dá dobře vydělávat prací, která není špinavá a nebezpečná, pokračoval ve vzdělávání na University of Illinois v Urbana-Champaign, kde získal titul Ph.D. v roce 1965 absolvoval fyziku s matematikou. Aspnes strávil postdoktorandský rok na UIUC, kde napsal několik seminárních prací o vlivu elektrických polí na optické vlastnosti materiálů, a druhý rok na Brown University, kde zahájil experimentální práci ve stejném poli. V roce 1967 nastoupil jako výzkumný pracovník do výzkumné oblasti Bell Laboratories, Murray Hill.

Na Bell Laboratories Aspnes sledoval svůj zájem o optické vlastnosti materiálů a tenkých vrstev a jejich použití nejen k charakterizaci typu materiálu, ale také jeho nanostruktury. Znovu kombinuje teorii a experiment a vyvinul SE jako přední metodu získávání těchto informací. Technologie, kterou vyvinul, zahrnující jak masivní získávání dat, tak metody analýzy, se staly základem technologie integrovaných obvodů (IC), kde SE je nezbytná pro zajištění toho, aby parametry procesu byly pod kontrolou a aby výsledky byly v rámci specifikace. Ze stovek kroků zpracování, které se používají k výrobě moderních integrovaných obvodů, je řádově 100 z nich hodnoceno SE. I když jsou integrované obvody výsledkem pokroku v mnoha oblastech, nelze bez nadsázky říci, že současné schopnosti v elektronice, výpočetní technice, komunikaci a ukládání dat by nebyly možné bez informací poskytnutých SE. Práce také vytvořila nové pole: letos (2013) se v Kjótu bude konat 6. mezinárodní konference o spektroskopické elipsometrii, kde mnoho článků hlásí aplikace SE na biologii a medicínu.

Když byly provozní společnosti zbavený z AT&T v roce 1984 se Aspnes přestěhoval do Bellcore, Bell Laboratories provozujících společností, kde pokračoval ve výzkumu jako vedoucí oddělení fyziky rozhraní a později oddělení fyziky rozhraní a optických věd. Jeho práce na stanovení optických vlastností materiálů během růstu otevřela nové pole reflexně-anizotropní spektroskopie, která umožňovala sledovat chemické reakce na površích v reálném čase. Výzkum prováděný v jeho oddělení zahrnoval vývoj liftoff, technologie široce používanou pro spojování různých materiálů, a strukturu fotonického pásma, která se sama rozšířila do nové oblasti fotoniky.

V roce 1992 se Aspnes připojil k katedře fyziky Státní univerzita v Severní Karolíně kde je Významný univerzitní profesor fyziky. Je aktivní ve výuce, výzkumu a administrativě na NCSU i v externích organizacích. Je předsedou třídy III Národní akademie věd. Publikoval přibližně 500 článků a je držitelem 23 patentů. Jako uznání za jeho mnoho přínosů pro vědu a techniku ​​je členem různých organizací a získal řadu ocenění, včetně ceny Wood Wood of the Optical Society of America v roce 1987, pamětní medaile Johna Yarwooda Britské rady pro vakuum v roce 1993, Frank 1996 Isaksonova cena Americké fyzikální společnosti, Cena Americké vakuové společnosti Medard W. Welch z roku 1998 a Cena mentora Společnosti vakuových lakovačů za rok 2011.

Ceny a vyznamenání

• 1973 zvolen členem Americké fyzické společnosti
• 1976 Cena Alexandra von Humboldta pro Senior Scientist Award
• 1979 zvolen Fellow Optical Society of America
• 1987 Cena dřeva za optickou společnost Ameriky
• Pamětní medaile Johna Yarwooda z roku 1993 Britská rada pro vakuum
• 1996 zvolen za člena Americké vakuové společnosti
• Cena Franka Isaksona za optické efekty v tělesech z roku 1996
• Cena absolventa za mimořádný výzkum z roku 1996 - Státní univerzita v Severní Karolíně
• 1996 Zvolen Fellow - Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
• 1997 Max-Planck - cena Gesellschaft za mezinárodní spolupráci
• 1998 Medard W. Welch Award of American Vacuum Society
• 1998 zvolen za člena Národní akademie věd
• 2002 Zvolen Fellow - Americká asociace pro rozvoj vědy
• Ocenění Mentor 2011, Society of Vacuum Coaters

Reference

externí odkazy

• Stránka Davida E. Aspnesa na North Carolina State University
• Životopis Davida E. Aspnesa na Americkém fyzikálním ústavu